高低溫箱GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第1部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫：簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的高低溫箱低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱兩類(lèi)試驗(yàn)樣品。對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品，試驗(yàn)Aa和Ab不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)僅限于用來(lái)考核或確定電工、電子產(chǎn)品(包括件、設(shè)備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下貯存和(或)使用的適應(yīng)性。這一低溫試驗(yàn)不能用來(lái)評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品對(duì)溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力，在這種情況下，應(yīng)當(dāng)采用試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法。低溫試驗(yàn)方法分為以下三類(lèi):非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):——試驗(yàn)Aa:溫度突變——試驗(yàn)Ab:溫度漸變散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):——試驗(yàn)Ad:溫度漸變本試驗(yàn)方法通常用于條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間是從試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)開(kāi)始計(jì)算的。在特殊情況下，如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定，則試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)箱(室)達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時(shí)開(kāi)始計(jì)算。相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定:a)試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度變化速率;b)試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱(室)的時(shí)間;c)試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)條件下暴露試驗(yàn)開(kāi)始的時(shí)間;d)試驗(yàn)樣品通電或加負(fù)載的時(shí)間。在這些條件下，相關(guān)規(guī)范的制定者可根據(jù)GB/T2424.1-1989導(dǎo)則選定以上4個(gè)參數(shù)(以上條件下的修訂正在考慮之中)。 |
